本书主要讲述电子器件在空间环境中的单粒子效应，器件在空间应用时单粒子辐照效应的地面评估方法，及其空间应用时的错误概率计算。全书共17章，第1章和第2章主要介绍电子元器件空间单粒子效应的基础知识；第3章至第5章对地面模拟空间单粒子效应的试验进行详细介绍、阐述试验数据的分析方法；第6章讲述试验数据如何与器件机理进行对应；第7章、第8章、第11章至第17章讲述空间单粒子翻转错误率的计算与空间环境中的预估；第9章和第10章介绍两种特殊的单粒子效应。

Edward Petersen，博士，1969年—1993年任职于美国海军研究实验室，自那时起，他一直担任顾问。Petersen博士的研究集中于估算卫星系统的损坏率，他的研究表明空间损坏率的测量与基于实验室实验的预测是一致的。他撰写或与他人合作撰写了60余篇辐射效应方面的论文，大多数与单粒子效应有关。作为IEEE会员，Petersen博士是IEEE核辐射效应和等离子体科学学会奖的获得者。